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ZLDS202激光二维扫描传感器

ZLDS202高精度激光扫描传感器专为高精度二维轮廓扫描而设计,同时具备速度、精度和卓越性能,Z轴具有0.05%的线性度,0.01%的分辨率,可稳定且高精度测量所有难以检测的物体。

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- 主要特点-
  • 测量范围从10毫米到200毫米,适用于大部分测量场合;

  • 非接触式测量,适应各种被测体表面;

  • 采样率高达6800剖面/秒,从而实现高图像质量;

  • 源于其紧凑的设计和高扫描分辨率,特别适合静态、动态和机器人应用;

  • 用于扫描仪参数化、图像和剖面可视化的web界面

  • 具有恢复模式,恢复至硬件故障或用户操作错误前的基本模式,减小操作失误后的测量误差。

-应用领域-

ZLDS202传感器有着非常广泛的应用,外轮廓,厚度,高度,深度,边沿,凹槽,角度,圆度,平整度,变形等应用,适用于任何类型工业领域,如汽车、铁路、机械加工、自动化生产等领域。

  

 

- 技术规格-

- 测量原理-

基于光学三角测量原理(见下图)。

半导体激光器的辐射是由一条直线上的透镜投射到一个物体上而形成的。从物体散射的辐射由透镜收集并定向到一个二维CMOS图像传感器。通过FPGA和信号处理器对形成的物体轮廓图像进行分析,计算出物体上激光直线上各点到物体的距离(z坐标)。扫描仪的特征是Z坐标的量程起点(SMR), Z坐标的量程起点(MR), Z坐标的量程起点(Z)

 

- 成功案例-

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